Rasterelektronenmikroskopie

Für den Einsatz in der Werkstoffanalytik, auch im Zusammenhang mit Schadensanalysen, ist der Einsatz des Raster Elektronenmikroskop (REM) heute kaum mehr wegzudenken. 

Mit dem REM erreicht man hoch vergrößernde (von 5 fach bis ca. 1.000.000 fach) Abbildungen von Oberflächenstrukturen mit einer hohen Tiefenschärfe. Zusätzlich lassen sich chemische Elementgehalte und Elementverläufe bestimmen. 

Voraussetzung ist, dass die untersuchten Proben fest, trocken und elektrisch leitend sind. Bei Bedarf werden sie dünn mit z.B. Kohlenstoff oder Gold beschichtet.